Advanced Materials Characterization | Ch Sateesh Kumar, M Muralidhar Singh, Ram Krishna | Technologie mécanique & Matériaux | 9781032375106 | Librairie Club

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Description

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :: 130

Langue:: Anglais

Collection :

Caractéristiques

EAN:: 9781032375106

Date de parution :: 04-05-23

Format:: Livre relié

Format numérique:: Genaaid

Dimensions :: 156 mm x 234 mm

Poids :: 381 g

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