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Advances in Imaging and Electron Physics
Part a Volume 172
259,95 €
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Description
This special volume of Advances in Imaging and Electron Physics details the current theory, experiments, and applications of neutron and x-ray optics and microscopy for an international readership across varying backgrounds and disciplines. Edited by Dr. Ted Cremer, these volumes attempt to provide rapid assimilation of the presented topics that include neutron and x-ray scatter, refraction, diffraction, and reflection and their potential application.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 696
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 172
Caractéristiques
- EAN:
- 9780123944221
- Date de parution :
- 02-07-12
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 152 mm x 229 mm
- Poids :
- 979 g
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