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Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

Atomic-Scale Structure Determination

Yoshio Waseda
Livre relié | Anglais | Springer Tracts in Modern Physics | n° 179
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Description

A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Yoshio Waseda
Editeur:
Springer

Contenu

Nombre de pages :
214
Langue:
Anglais
Collection :
Springer Tracts in Modern Physics
Tome:
n° 179

Caractéristiques

EAN:
9783540434436
Date de parution :
11-09-02
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
503 g
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