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Applied Scanning Probe Methods II
Scanning Probe Microscopy Techniques
119,45 €
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Description
These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 420
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642065699
- Date de parution :
- 12-02-10
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 156 mm x 23 mm
- Poids :
- 697 g
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