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Description

A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
520
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9780198513872
Date de parution :
19-09-96
Format:
Livre relié
Dimensions :
164 mm x 242 mm
Poids :
1042 g
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