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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Livre broché | Français
43,26 €
+ 86 points
Description
Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit sont plus particulièrement traitées.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 289
- Langue:
- Français
Caractéristiques
- EAN:
- 9781784051655
- Date de parution :
- 27-07-16
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 160 mm x 240 mm
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