Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée | Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami | Ingénierie & Technologie | 9781784051655 | Librairie Club

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Description

Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit sont plus particulièrement traitées.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :: 289

Langue:: Français

Caractéristiques

EAN:: 9781784051655

Date de parution :: 27-07-16

Format:: Livre broché

Dimensions :: 160 mm x 240 mm

Seulement chez Librairie Club

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