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Description
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 180
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780442006433
- Date de parution :
- 31-08-93
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 158 mm x 247 mm
- Poids :
- 476 g
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