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Description
This book provides an in-depth description of x-ray microanalysis in the electron microscope. It is sufficiently detailed to ensure that novices will understand the nuances of high-quality EDX analysis. Includes information about hardware design as well as the physics of x-ray generation, absorption and detection, and most post-detection data processing. Details on electron optics and electron probe formation allow the novice to make sensible adjustments to the electron microscope in order to set up a system which optimises analysis. It also helps the reader determine which microanalytical method is more suitable for their planned application.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 160
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 49
Caractéristiques
- EAN:
- 9781859961094
- Date de parution :
- 10-07-03
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 152 mm x 229 mm
- Poids :
- 222 g
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