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Description
Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 322
- Langue:
- Allemand
- Collection :
- Tome:
- n° 27
Caractéristiques
- EAN:
- 9783815423141
- Date de parution :
- 01-01-98
- Format:
- Livre broché
- Format numérique:
- Trade paperback (VS)
- Dimensions :
- 162 mm x 235 mm
- Poids :
- 521 g
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