- Retrait en 2 heures
- Assortiment impressionnant
- Paiement sécurisé
- Toujours un magasin près de chez vous
- Retrait gratuit dans votre magasin Club
- 7.000.0000 titres dans notre catalogue
- Payer en toute sécurité
- Toujours un magasin près de chez vous
425,95 €
+ 851 points
Description
In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 360
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9780471954828
- Date de parution :
- 04-08-97
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 166 mm x 236 mm
- Poids :
- 616 g
Seulement chez Librairie Club
+ 851 points sur votre carte client de Librairie Club
BLACK FRIDAY
BLACK FRIDAY
INSPIRATION
Les avis
Nous publions uniquement les avis qui respectent les conditions requises. Consultez nos conditions pour les avis.