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Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists
Dong Zhili
228,95 €
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Format
Description
The goal of this textbook is to effectively equip readers with an in-depth understanding of crystallography, x-ray diffraction, and transmission electron microscopy theories as well as applications. It is written as an introduction to the topic with minimal reliance on advanced mathematics.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 272
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9780367357948
- Date de parution :
- 24-05-22
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 156 mm x 234 mm
- Poids :
- 580 g
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