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Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

Terry L Alford, L C Feldman, James W Mayer
Livre relié | Anglais
167,95 €
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Description

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. This book focuses on the fundamental physics underlying the techniques used to analyze the nature of surfaces and near-surfaces in the properties of materials. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Coverage includes new analytical techniques, such as x-ray fluorescence (XRF) in thin film analysis. This volume updates (with a nano focus) the well regarded 1986 book, Surface and Thin Film Analysis, by Feldman and Mayer.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
336
Langue:
Anglais

Caractéristiques

EAN:
9780387292601
Date de parution :
16-02-07
Format:
Livre relié
Format numérique:
Genaaid
Dimensions :
166 mm x 234 mm
Poids :
703 g
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