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Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics

T. Mitch Wallis, Pavel Kabos
166,45 €
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Description

Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
328
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9781107120686
Date de parution :
14-09-17
Format:
Livre relié
Dimensions :
178 mm x 253 mm
Poids :
790 g
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