Microscopy of Semiconducting Materials | | Électricité, Électromagnétisme & Magnétisme | 9780750306508 | Librairie Club

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Description

Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. This authoritative reference explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigate semiconducting structures. It also covers specimen preparation using focused ion beam milling and advances in microscopy techniques using different types of scanning probes, such as AFM, STM, and SCM. In addition, the volume discusses a range of materials, from finished devices to partly processed materials and structures, including nanoscale wires and dots.

Spécifications

Parties prenantes

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :: 772

Langue:: Anglais

Collection :

Tome:: n° 164

Caractéristiques

EAN:: 9780750306508

Date de parution :: 01-01-00

Format:: Livre relié

Format numérique:: Genaaid

Dimensions :: 165 mm x 242 mm

Poids :: 1410 g

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