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Quadrupoles in Electron Lens Design
Volume 224
415,95 €
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Description
Coulomb Interactions in Particle Beams, Volume 223 in the Advances in Imaging and Electron Physics series, merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and computing methods used in all these domains, with this release exploring Coulomb Interactions in Particle Beams.
Spécifications
Parties prenantes
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 398
- Langue:
- Anglais
- Collection :
- Tome:
- n° 224
Caractéristiques
- EAN:
- 9780323988650
- Date de parution :
- 21-11-22
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 152 mm x 229 mm
- Poids :
- 698 g
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