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Quantum Metrology, Imaging, and Communication

David S Simon, Gregg Jaeger, Alexander V Sergienko
Livre broché | Anglais | Quantum Science and Technology
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Description

This book describes the experimental and theoretical bases for the development of specifically quantum-mechanical approaches to metrology, imaging, and communication. The particular techniques explored include two-photon interferometry, two-photon optical aberration and dispersion cancellation, lithography, microscopy, and cryptography.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
273
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9783319835402
Date de parution :
04-07-18
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
408 g
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