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Description
A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 136
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9781601983947
- Date de parution :
- 27-11-10
- Format:
- Livre broché
- Dimensions :
- 157 mm x 234 mm
- Poids :
- 210 g
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