Radiation-induced Soft Error | Norbert Seifert | Énergie | 9781601983947 | Librairie Club

Retrait en 2 heures
Assortiment impressionnant
Paiement sécurisé
Toujours un magasin près de chez vous

Retrait gratuit dans votre magasin Club
7.000.0000 titres dans notre catalogue
Payer en toute sécurité
Toujours un magasin près de chez vous

Wishlist

Wishlist

Chercher

Livres

Papeterie

Jeux

Cadeaux

Tous les produits

Ebooks

Carte cadeau Club

Promotions

117,45 €

+ 234 points

Livraison sous 1 à 4 semaines

Passer une commande en un clic

Payer en toute sécurité

Livraison en Belgique: 3,99 €

Livraison en magasin gratuite

Description

A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :: 136

Collection :

Caractéristiques

EAN:: 9781601983947

Date de parution :: 27-11-10

Format:: Livre broché

Dimensions :: 157 mm x 234 mm

Poids :: 210 g

Seulement chez Librairie Club

+ 234 points sur votre carte client de Librairie Club

CADEAU

à l'achat d'un Bongo à partir de 39 €

CADEAU

CADEAU

à l'achat d'un livre de la sélection

CADEAU

CONCOURS

à l'achat du nouveau Dan Brown

CONCOURS

Standaard Boekhandel

Les avis

Nous publions uniquement les avis qui respectent les conditions requises. Consultez nos conditions pour les avis.