•  Retrait en 2 heures
  •  Assortiment impressionnant
  •  Paiement sécurisé
  •  Toujours un magasin près de chez vous
  •  Retrait gratuit dans votre magasin Club
  •  7.000.0000 titres dans notre catalogue
  •  Payer en toute sécurité
  •  Toujours un magasin près de chez vous

Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

Chia-Wei Chen
44,95 €
+ 89 points
Livraison 1 à 4 semaines
Passer une commande en un clic
Payer en toute sécurité
Livraison en Belgique: 3,99 €
Livraison en magasin gratuite

Description

Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
210
Langue:
Anglais
Collection :
Tome:
n° 24

Caractéristiques

EAN:
9783731514022
Format:
Livre broché
Dimensions :
148 mm x 13 mm
Poids :
400 g
Librairie Club

Seulement chez Librairie Club

+ 89 points sur votre carte client de Librairie Club
INSPIRATION

Idées cadeaux pour la fin d'année

Dans notre sélection vous trouverez le cadeau pour faire briller les yeux de vos proches.
INSPIRATION
Fin d'année 2025
Standaard Boekhandel

Les avis

Nous publions uniquement les avis qui respectent les conditions requises. Consultez nos conditions pour les avis.