Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces | Chia-Wei Chen | Électricité, Électromagnétisme & Magnétisme | 9783731514022 | Librairie Club

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Description

Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :: 210

Langue:: Anglais

Collection :

Tome:: n° 24

Caractéristiques

EAN:: 9783731514022

Format:: Livre broché

Dimensions :: 148 mm x 13 mm

Poids :: 400 g

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