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Format
Description
Various well-developed techniques such as optical microscopy and different forms of electron microscopy (Scanning Electron Micr- copy, SEM; The invention of Scanning Tunneling Microscopy (STM) inspired the devel- ment of Atomic Force Microscopy (AFM) and other forms of scanning proximity microscopes in the late 1980s [4, 5].
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 248
- Langue:
- Anglais
- Collection :
Caractéristiques
- EAN:
- 9783642012303
- Date de parution :
- 01-03-10
- Format:
- Livre relié
- Dimensions :
- 155 mm x 235 mm
- Poids :
- 516 g
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