Secondary Ion Mass Spectrometry Sims II | | Analyse du spectre | 9783642618734 | Librairie Club

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Description

This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

Spécifications

Parties prenantes

Editeur:

Contenu

Nombre de pages :: 300

Langue:: Anglais

Collection :

Tome:: n° 9

Caractéristiques

EAN:: 9783642618734

Date de parution :: 13-12-11

Format:: Livre broché

Format numérique:: Trade paperback (VS)

Dimensions :: 152 mm x 229 mm

Poids :: 430 g

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