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Statistical Performance Modeling and Optimization

Xin Li, Jiayong Le, Lawrence T. Pileggi
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Description

Reviews various statistical methodologies that have been recently developed to model, analyse and optimize performance variations at both transistor level and system level in integrated circuit design. Coverage includes sources of process variations, variation characterization and modeling, Monte Carlo analysis, and response surface modeling.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
164
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9781601980564
Date de parution :
07-08-07
Format:
Livre broché
Dimensions :
156 mm x 234 mm
Poids :
240 g
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