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Strain-Induced Effects in Advanced Mosfets

Viktor Sverdlov
Livre broché | Anglais | Computational Microelectronics
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Description

Strain is used to boost performance of MOSFETs. Modeling of strain effects on transport is an important task of modern simulation tools required for device design. The book covers all relevant modeling approaches used to describe strain in silicon. The subband structure in stressed semiconductor films is investigated in devices using analytical k.p and numerical pseudopotential methods. A rigorous overview of transport modeling in strained devices is given.

Spécifications

Parties prenantes

Auteur(s) :
Editeur:

Contenu

Nombre de pages :
252
Langue:
Anglais
Collection :

Caractéristiques

EAN:
9783709119334
Date de parution :
23-08-16
Format:
Livre broché
Format numérique:
Trade paperback (VS)
Dimensions :
170 mm x 244 mm
Poids :
430 g
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