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Description
Closely follows an actual structural determination. After some introductory material on the nature of x-rays, the diffraction process, and the internal geometry of crystals, the selection and preparation of a crystal are considered. Techniques of measuring raw x-ray data are covered, plus their reduction into a useable form. The second part discusses both traditional and novel methods of solving the ``phase'' problem, the principal difficulty in x-ray structure determination. The third part considers how to extract the most information from the data and how to evaluate its reliability. Finally, there is a discussion of sources of error in practice and interpretation.
Spécifications
Parties prenantes
- Auteur(s) :
- Editeur:
Contenu
- Nombre de pages :
- 480
- Langue:
- Anglais
Caractéristiques
- EAN:
- 9780471607113
- Date de parution :
- 08-05-89
- Format:
- Livre relié
- Format numérique:
- Genaaid
- Dimensions :
- 163 mm x 243 mm
- Poids :
- 762 g
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