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Tous les livres de Ricardo Reis

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for Finfets

Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais
- This book evaluates the influence of process variations (e.g. work-function fluctuations) and radiation-induced soft errors in a set of logic cells us... Savoir plus
167,95 €

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Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability

Gustavo Neuberger, Gilson Wirth, Ricardo Reis
- Livre broché | Anglais
- With the development of Very-Deep Sub-Micron technologies, process variability is becoming increasingly important and is a very important issue in the... Savoir plus
112,19 €

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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for Finfets

Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola, Ricardo Reis
- Livre broché | Anglais
- This book evaluates the influence of process variations (e.g. work-function fluctuations) and radiation-induced soft errors in a set of logic cells us... Savoir plus
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Electromigration Inside Logic Cells

Gracieli Posser, Sachin S Sapatnekar, Ricardo Reis
- Livre broché | Anglais
- This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with sig... Savoir plus
83,95 €

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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs

Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 32
- Fault-tolerance in integrated circuits is not an exclusive concern regarding space designers or highly-reliable application engineers. Rather, designe... Savoir plus
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Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-Constrained Iot Edge Devices

Geancarlo Abich, Luciano Ost, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais | Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
- This book describes an extensive and consistent soft error assessment of convolutional neural network (CNN) models from different domains through more... Savoir plus
137,45 €

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Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs

Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis
- Livre broché | Anglais | Frontiers in Electronic Testing | n° 32
- Fault-tolerance in integrated circuits is not an exclusive concern regarding space designers or highly-reliable application engineers. Rather, designe... Savoir plus
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Soft Error Reliability Using Virtual Platforms

Felipe Rocha Da Rosa, Luciano Ost, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais
- This book describes the benefits and drawbacks inherent in the use of virtual platforms (VPs) to perform fast and early soft error assessment of multi... Savoir plus
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Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-Constrained Iot Edge Devices

Geancarlo Abich, Luciano Ost, Ricardo Reis
- Livre broché | Anglais | Synthesis Lectures on Engineering, Science, and Technology
- This book describes an extensive and consistent soft error assessment of convolutional neural network (CNN) models from different domains through more... Savoir plus
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Soft Error Reliability Using Virtual Platforms

Felipe Rocha Da Rosa, Luciano Ost, Ricardo Reis
- Livre broché | Anglais
- This book describes the benefits and drawbacks inherent in the use of virtual platforms (VPs) to perform fast and early soft error assessment of multi... Savoir plus
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A Crash Course on Crises

Markus K Brunnermeier, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais
- An incisive overview of the macroeconomics of financial crises--essential reading for students and policy experts alike With alarming frequency, moder... Savoir plus
46,95 €

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Electromigration Inside Logic Cells

Gracieli Posser, Sachin S Sapatnekar, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais
- This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with sig... Savoir plus
90,95 €

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Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability

Gustavo Neuberger, Gilson Wirth, Ricardo Reis
- Livre relié | Anglais
- With the development of Very-Deep Sub-Micron technologies, process variability is becoming increasingly important and is a very important issue in the... Savoir plus
145,19 €

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